Computed electron micrographs and defect identification /
| 種別: | 図書 |
|---|---|
| 言語: |
英語
|
| 出版事項: |
Amsterdam ; London :
North-Holland
1973
New York : American Elsevier, |
| シリーズ: | Defects in crystalline solids
v. 7 |
| ISBN: | 0720417570 0444104623 |
| 主題: |
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